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產品詳情
  • 產品名稱:X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE

  • 產品型號:
  • 產品廠商:布魯克(BRUKER)
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簡單介紹:
進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE可實現粉末,塊體,薄膜等樣品的測試分析,同時支持高低溫條件下的原位分析。進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!
詳情介紹:

進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE簡介:

ADVANCE是模塊化設計的全功能衍射儀,可實現粉末,塊體,薄膜等樣品的測試分析,同時支持高低溫條件下的原位分析。

X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE,采用**性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!         

高精度的測角儀可以**在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不*過0.01度,布魯克AXS公司提供全球**!  

**的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。 

進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE特點:
1、 采用新一代的陶瓷X光管技術,焦斑位置穩(wěn)定,衰減小,壽命長;而且該光管為標準尺寸,對用戶的限制小;因為采用的是封閉靶技術,后期維護非常方便; 
2、 全自動可變狹縫,用戶可以自由選擇固定狹縫大小或固定測量面積模式; 
3、 高精度立式測角儀,樣品水平放置,*小步長及角度重復性皆為0.0001o;測角儀精度保障:**NIST 剛玉標樣用戶現場檢測,**全譜范圍內所有峰的角度偏差不*過±0.01o; 
4、 林克斯一維陣列探測器:相對與常規(guī)探測器強度提高150倍以上,靈敏度提高一個數量級。 
4.1、該探測器共由192個子探測器陣列組成,在相同條件下,與常規(guī)的閃爍計數器(或正比計數器)相比,強度增益(或速度增益)高達150倍以上,同時具有優(yōu)良的分辨率及信噪比; 
4.2、杰出的角度分辨率:基本上等同于采用0.1mm接受狹縫的點探測器的分辨率。在大幅提高強度的同時,**了數據質量; 
4.3、良好的低角度測量:LynxEye探測器在充分吸收布魯克20多年的陣列探測器應用的基礎上,基本克服了常規(guī)陣列探測器低角度性能欠佳的弱點; 
4.4、優(yōu)異的能量分辨率:20%,無需單色器,即可有效去除含鐵樣品的熒光; 4.5、192個子探測器分別由單獨電路控制,**無壞子探測器,可以做靜態(tài)掃描,尤其適合配了高溫原位分析附件的用戶; 
4.6、用戶可隨意選擇子探測器開放個數,當作點探測器使用,免去了點、線探測器互換的麻煩; 
4.7、該探測器完全免維護,使用方便。 
5、 分析軟件:好用、功能強,所有參數調整采用動態(tài)調整、所見即所得的方式,簡單、快捷。 
5.1、EVA檢索軟件 
5.2、考慮樣品物理含義的重疊峰分離軟件; 
5.3、TOPAS無標樣定量分析軟件; 
5.4、新一代的Rietveld結構精修軟件及粉末衍射解結構軟件,除了常規(guī)的模擬退火外,還提供*新的電荷反轉及三維傅立葉變換,在測量軟件上還提供了可變計數時間模式,以增加高角度信號強度。 
6、 在薄膜應用上,布魯克的新D8A衍射儀,采用TWIN-TWIN光路設計,可以同時實現入射及衍射光路上,狹縫到鏡子、狹縫到平行光狹縫的自動切換,用戶只需在軟件上通過下拉菜單選擇需要的光學器件即可,解決了以前需要人工置換,重新對光的麻煩; 
7、 在點光源應用上(包括微區(qū)、織構、應力),新D8A采用了TWIST TUBE技術,用戶可以直接將光管轉90度即刻完成點線光源的切換,而無需拆卸光管。 在原位分析應用上,新D8A配備了高低溫一體化設計,溫度范圍-180oC到+1600oC,高低溫模塊之間的切換只需更換加熱模塊,而無需更換整個樣品臺;而且該樣品臺為高度自動可調樣品臺,對于不同高度的樣品,均能應付自如。
進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE應用:
物相定性分析 結晶度及非晶相含量分析 結構精修及解析 物相定量分析 點陣參數精 確測量 無標樣定量分析 微觀應變分析 晶粒尺寸分析 原位分析 殘余應力 低角度介孔材料測量 織構及ODF分析 薄膜掠入射 薄膜反射率測量 小角散射。
進口X射線衍射儀|布魯克多功能X射線衍射儀|X射線多晶衍射儀D8 ADVANCE技術指標:
Theta/theta立式測角儀
2Theta角度范圍:-110~168°
角度精度:0.0001度                     
Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管 
探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  
儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            
重量:770kg
功率:6.5kW

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